礦產(chǎn)光譜分析儀 地質(zhì)勘探光譜儀

礦產(chǎn)光譜分析儀 地質(zhì)勘探光譜儀，用于現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測礦石元素種類及其含量。

奧林巴斯的便攜式X射線熒光分析儀具有很高的分析性能，可以實時提供地球化學數(shù)據(jù)，從而有助于快速確定土壤、巖石 和礦石的多元素特征。當前在便攜式XRF技術(shù)上的重大進展，大幅降低了檢測時間，優(yōu)化了檢出限，并增加了可測元素 的數(shù)量。如今地質(zhì)工作者通常會使用來自Vanta分析儀的巖石地球化學信息識別巖石的類型。Vanta分析儀還可以參與完 成一些標準的地質(zhì)測井工作（如：分析土壤、鉆屑和巖芯），因為Vanta分析儀可以在采樣地點即時提供客觀的化學成分 數(shù)據(jù)。在進行常規(guī)視覺測井的同時甚至之前，可以使用這些數(shù)據(jù)對巖石進行分類，并解讀巖石蝕變和礦化的原因。

Vanta便攜式分析儀所獲得的數(shù)據(jù)有助于辨別巖石的類型并完成蝕變測井。

礦產(chǎn)光譜分析儀 地質(zhì)勘探光譜儀

在地質(zhì)測井工作中，地球科學家通過肉眼觀察，將包含土壤、鉆屑、石塊和鉆芯在內(nèi)的不同樣本的巖石類型、蝕變情況、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造及其它特征記錄下來。地球科學家一般使用測井圖表（地質(zhì)編錄）將所觀察到的特征或順磁特性記錄下來，其中包括：顏色、粒徑大小、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造走向、層理、蝕變、質(zhì)變和橫切。